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Séance MB10 - Statistiques / Statistics

Jour lundi, le 7 mai 2007
Salle Demers Beaulne
Président Denis Larocque

Présentations

15h30-
15h55
Arbres de survie à temps discret
  Imad Bou-hamad, HEC Montréal, Méthodes quantitatives de gestion, 3000, chemin de la Côte-Sainte-Catherine, Montréal, Québec, Canada, H3T 2A7

Les méthodes d’arbres sont très utilisées afin d’identifier les facteurs reliés au temps de survie avec des données censurées. Les méthodes existantes se limitent au traitement de temps de survie mesuré en continu alors qu’il arrive souvent en pratique que le temps de survie soit mesuré sur une échelle discrète. Nous présenterons une nouvelle méthode de construction d’arbres avec données censurées lorsque le temps de survie est mesuré sur une échelle discrète.


15h55-
16h20
Estimation of Non-Parametric Mixed Logits Models in Transportation Research
  Fabian Bastin, Université de Montréal, Informatique et Recherche Opérationnelle, CP 6128, Succ. Centre-Ville, Montréal, Québec, Canada, H3C 3J7
Cinzia Cirillo, University of Maryland, Civil and Environmental Engineering, 1173 Glenn L. Martin Hall, Bldg #088, College Park, MD, USA, 20742
Philippe L. Toint, Université de Namur, Département de Mathématique, Rempart de la Vierge 8, Namur, Belgique, 5000

We consider the estimation of mixed logit models in transportation, without knowledge of the distributions of individual random parameters. Assuming independence between these parameters, we approximate the distribution functions by means of B-cubic splines, and show how to efficiently solve the resulting maximum likelihood problem using a constrained trust-region algorithm.


16h20-
16h45
One-Sample Location Tests for Multilevel Data
  Denis Larocque, GERAD et HEC Montréal, Méthodes quantitatives de gestion

In this paper, we consider testing the location parameter with multilevel (or hierarchical) data. A general family of weighted test statistics are introduced. This family includes extensions to the case of multilevel data of familiar procedures like the t, the sign and the Wilcoxon signed-rank tests.


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